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4.1.15 詳細(xì)勘察勘探點(diǎn)的間距可按表4.1.15 確定。
4.1.16 詳細(xì)勘察的勘探點(diǎn)布置，應(yīng)符合下列規(guī)定：
1 勘探點(diǎn)宜按建筑物周邊線和角點(diǎn)布置，對(duì)無(wú)特殊要求的其他建筑物可按建筑物或建筑群的范圍布置：
2 同一建筑范圍內(nèi)的主要受力層或有影響的下臥層起伏較大時(shí)，應(yīng)加密勘探點(diǎn)，查明其變化；
3 重大設(shè)備基礎(chǔ)應(yīng)單獨(dú)布置勘探點(diǎn)，重大的動(dòng)力機(jī)器基礎(chǔ)和高聳構(gòu)筑物，勘探點(diǎn)不宜少于3 個(gè)；
4 勘探手段宜采用鉆探與觸探相配合，在復(fù)雜地質(zhì)條件、濕陷性土、膨脹巖土、風(fēng)化巖和殘積土地區(qū)、宜布置適量探井。
4.1.17 詳細(xì)勘察的單棟高層建筑勘探點(diǎn)的布置，應(yīng)滿足對(duì)地基均勻性評(píng)價(jià)的要求,且不應(yīng)少于4 個(gè)，對(duì)密集的高層建筑群，勘探點(diǎn)可適當(dāng)減少，但每棟建筑物至少應(yīng)有1 個(gè)控制性勘探點(diǎn)。
4.1.18 詳細(xì)勘察的勘探深度自基礎(chǔ)底面算起，應(yīng)符合下列規(guī)定：
1 勘探孔深度應(yīng)能控制地基主要受力層，當(dāng)基礎(chǔ)底面寬度不大于5m 時(shí),勘探孔的深度對(duì)條形基礎(chǔ)不應(yīng)小于基礎(chǔ)底面寬度的3 倍，對(duì)單獨(dú)柱基不應(yīng)小于1.5 倍，且不應(yīng)小于5m；
2 對(duì)高層建筑和需作變形計(jì)算的地基,控制性勘探孔的深度應(yīng)超過(guò)地基變形計(jì)算深度；高層建筑的一般性勘探孔應(yīng)達(dá)到基底下0.5～1.0 倍的基礎(chǔ)寬度，并深入穩(wěn)定分布的地層；
3 對(duì)僅有地下室的建筑或高層建筑的裙房，當(dāng)不能滿足抗浮設(shè)計(jì)要求，需設(shè)置抗浮樁或錨桿時(shí)，勘探孔深度應(yīng)滿足抗拔承載力評(píng)價(jià)的要求；
4 當(dāng)有大面積地面堆載或軟弱下臥層時(shí)，應(yīng)適當(dāng)加深控制性勘探孔的深度；
5 在上述規(guī)定深度內(nèi)當(dāng)遇基巖或厚層碎石土等穩(wěn)定地層時(shí)，勘探孔深度應(yīng)根據(jù)情況進(jìn)行調(diào)整。
4.1.19 詳細(xì)勘察的勘探孔深度，除應(yīng)符合4.1.18 條的要求外，尚應(yīng)符合下列規(guī)定：
1 地基變形計(jì)算深度,對(duì)中、低壓縮性土可取附加壓力等于上覆土層有效自重壓力20%的深度；對(duì)于高壓縮性土層可取附加壓力等于上覆土層有效自重壓力10%的深度；
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