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6 試驗方法
單元的試驗及測量除應(yīng)按下述規(guī)定進行外，還應(yīng)符合ZBK48003的要求。
6.1 試驗條件
除非對某一特定的試驗或測量另有說明，試驗開始時單元的電介質(zhì)的溫度應(yīng) 在+5℃到+35℃范圍內(nèi)。
如果單元在不通電的狀態(tài)下，在恒定的環(huán)境溫度中已經(jīng)放置了適當(dāng)長的一段 時間，則可認(rèn)為其電介質(zhì)的溫度和環(huán)境溫度相同。
6.2 密封性試驗
將單元的各個部位加熱到電介質(zhì)允許最高運行溫度，并在此溫度下保持2h應(yīng) 不發(fā)生滲漏。
建議使用適當(dāng)?shù)闹甘酒鳌?/P>
注：如果單元不含有液態(tài)物質(zhì)，出廠試驗時可不進行此項試驗。
6.3 電容測量
電容的測量在制造廠選用的電壓和頻率下進行，所用方法應(yīng)不包括由于諧波 或單元的外部附件，諸如測量回路中的電抗器和聯(lián)鎖回路等所引起的誤差。應(yīng)給 出測量方法的準(zhǔn)確度以及與在額定電壓和頻率下測量值之間的關(guān)系。
用作熱穩(wěn)定試驗的單元，應(yīng)在做熱穩(wěn)定試驗前在電壓(0.9～1.1)Un和頻率 (0.8～1.2)fn下測量電容，此電容測量也可根據(jù)購買方要求，經(jīng)與制造廠達成協(xié) 議后在其他單元上進行。
6.4 損耗角正切值tgδ的測量
單元的損耗角正切值應(yīng)在制造廠選定的電壓和頻率下進行測量，所使用的方 法應(yīng)不包括由諧波或被測量單元外部附件，諸如測量回路中的電抗器和聯(lián)鎖電路 等引起的誤差。應(yīng)給出測量方法的準(zhǔn)確度，以及與在額定電壓和額定頻率下測得 值之間的關(guān)系。
測量應(yīng)在耐壓試驗后進行。
對用來作熱穩(wěn)定試驗的單元，其損耗角正切值tgδ的測量應(yīng)在作熱穩(wěn)定試驗 前、在電壓(0.9～1.1)Un和頻率(0.8～1.2) fn下進行測量。
注：①當(dāng)在對大量的單元進行出廠試驗時，可采用統(tǒng)計抽樣的方法抽測其中部分 單元的高溫tgδ值(6.8條的注)。
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