|
6.6 放電器件檢驗(yàn)
對(duì)于內(nèi)部裝有放電器件的單元，其放電器件的電阻可用測(cè)量電阻值或測(cè)量其 自放電速率的方法進(jìn)行檢驗(yàn)。
本檢驗(yàn)應(yīng)在極間耐壓試驗(yàn)后進(jìn)行。
6.7 熱穩(wěn)定試驗(yàn)
6.7.1 概述
本試驗(yàn)旨在提供下列數(shù)據(jù)：
a.單元在過(guò)載荷條件下的熱穩(wěn)定性；
b.單元損耗測(cè)量再現(xiàn)性的條件。
6.7.2 測(cè)量程序
被試單元應(yīng)放在另外兩臺(tái)相同的單元之間施加同一電壓，也可用外殼相同內(nèi) 裝電阻的模擬單元。其電阻消耗的功率，應(yīng)調(diào)整到使模擬單元外殼寬面上靠近頂 部處的溫度等于或稍高于被試單元相應(yīng)處的溫度。各單元間的間距應(yīng)等于或小于 制造廠希望用戶采用的最小值。
被試組應(yīng)放在靜止空氣的密封恒溫箱中，箱中環(huán)境空氣溫度應(yīng)符合表5規(guī)定 并保持恒定，此溫度應(yīng)以具有熱時(shí)間常數(shù)約為1h的溫度計(jì)來(lái)檢測(cè)。溫度計(jì)應(yīng)加以 屏蔽，使其受三個(gè)通電試品的熱輻射為最小。
當(dāng)單元的各部分能達(dá)到表5規(guī)定的相應(yīng)環(huán)境空氣溫度后，對(duì)單元施加實(shí)際正 弦波形的交流電壓，歷時(shí)48h。在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中，電壓值應(yīng)使單元的容量等于 1.58Qn并保持恒定。
在最后6h內(nèi)應(yīng)測(cè)量外殼接近頂部處的溫度至少四次，在此6h內(nèi)的溫度增量 不得超過(guò)1℃。如果超過(guò)，則應(yīng)繼續(xù)試驗(yàn)，直到6h內(nèi)的連續(xù)四次測(cè)量的結(jié)果滿足 上述要求。
試驗(yàn)前后應(yīng)按6.1、6.3和6.4條規(guī)定測(cè)量電容和tgδ，必要時(shí)應(yīng)將兩次測(cè)量 值校正到同一介質(zhì)溫度，并應(yīng)滿足：
a.電容的變化量不應(yīng)大于2%；
上一頁(yè) [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] [20] [21] [22] [23] [24] 下一頁(yè) |
