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式中：Kvi--雜散電容引起的電壓分布不均勻系數(shù)；
KC--電阻片電容分散引起的電壓分布不均勻系數(shù)；
ui--由步驟G6.1決定；
 --電阻片的平均電容(折算成平均厚度時(shí)的電容)；
Ci--電阻片電容(折算成平均厚度時(shí)的電容)；
UC--避雷器持續(xù)運(yùn)行電壓；
n--避雷器中電阻片數(shù)量。
G6.3 電阻片按電容大小以一方式排列時(shí)(包括單柱、多柱及并有電容的避雷器)。
電壓分布不均勻系數(shù)K=KT，KT由式(G3)計(jì)算：
 (i=1…n,KT取最大值) (G3)
附錄H
推薦的人工污穢試驗(yàn)方法
(參 考 件)
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