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5.3.2 低溫試驗(yàn)
按GB2423.1規(guī)定的Ab類標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，將受試雙向終端在非通電狀態(tài)下放入低溫試驗(yàn)箱的中央，降溫至4.1.2條規(guī)定的最低溫度，保溫2h，然后通電0.5h，測(cè)基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)符合4.4.3.4條的規(guī)定，功能應(yīng)滿足4.7.2條的要求。
5.3.3 交變濕熱試驗(yàn)
按GB2423.4的規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)。試驗(yàn)最高溫度按4.1.2條的規(guī)定，試驗(yàn)周期為6d(最高溫度＋45℃)或2d(最高溫度＋55℃)。試驗(yàn)結(jié)束后在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)2h，測(cè)絕緣電阻應(yīng)不低于2MΩ，通電測(cè)基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)符合4.4.3.4條的規(guī)定，功能應(yīng)滿足4.7.2條的要求。
交變濕熱試驗(yàn)后，按4.3.7條的規(guī)定檢查金屬部分應(yīng)無腐蝕和生銹情況。
5.4 電氣性能試驗(yàn)
進(jìn)行各項(xiàng)電氣性能試驗(yàn)前，應(yīng)對(duì)雙向終端進(jìn)行自檢，所有結(jié)果和顯示應(yīng)正常。
進(jìn)行以下各條試驗(yàn)時(shí)，雙向終端的工作頻率、特征頻率、信息碼傳輸速率等應(yīng)符合4.4.3條的規(guī)定。
5.4.1 絕緣試驗(yàn)
絕緣試驗(yàn)應(yīng)參照GB311.3進(jìn)行。雙向終端應(yīng)蓋好外殼和端子蓋板。如外殼和端子蓋板由絕緣材料制成，應(yīng)在其外覆蓋以導(dǎo)電箔并與接地端子相連，導(dǎo)電箔應(yīng) 距接線端子及其穿線孔2cm。試驗(yàn)時(shí)，不進(jìn)行試驗(yàn)的電氣回路應(yīng)短路并接地。進(jìn)行沖擊和工頻耐壓試驗(yàn)時(shí)，不應(yīng)發(fā)生閃絡(luò)、破壞性放電和擊穿。試驗(yàn)后絕緣電阻值應(yīng)符合4.4.1.1條的規(guī)定。
5.4.1.1 絕緣電阻
測(cè)脈沖輸入回路和模擬量輸入回路的絕緣電阻應(yīng)用250V兆歐表，其它回路用500V兆歐表。由雙向終端的端子處測(cè)各電氣回路對(duì)地和各電氣回路間的絕緣電阻時(shí)，其值應(yīng)符合4.4.1.1條的規(guī)定。
5.4.1.2 沖擊耐壓
用1.2/50μs的標(biāo)準(zhǔn)沖擊波對(duì)以下回路分別做正、負(fù)極性耐壓試驗(yàn)各10次，2次試驗(yàn)之間最少間隔3s，試驗(yàn)電壓應(yīng)符合4.4.1.2條的規(guī)定。被試回路為：
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