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6.2 絕緣強度
按5.6條的規(guī)定用擊穿電壓測試儀進行絕緣強度試驗。試驗電壓從零起始， 在5s內(nèi)逐漸升到規(guī)定值并保持1min，隨后迅速平滑地降到零值。測試完畢斷電 后用接地線對被試品進行安全放電。
對額定電壓為60V以下的半導(dǎo)體器件，在對整機進行絕緣強度試驗時應(yīng)采取 防護措施，如拔出有關(guān)插件或短接有關(guān)電路等。
6.3 低溫試驗
低溫室的溫度偏差不大于±2℃。裝置在低溫室內(nèi)各表面與相應(yīng)的室內(nèi)壁之 間的最小距離不小于150mm。低溫室以不超過1℃/min速度降溫，待溫度達(dá)到+5 ℃并穩(wěn)定后開始計時，保溫2h。再將裝置連續(xù)通電2h(交、直流電壓均為額定 值)，檢查裝置的各種功能應(yīng)正常，然后將裝置斷電，以不超過1℃/min速度升 溫，待低溫室內(nèi)溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后，將裝置取出低溫室進行外觀檢 查。
6.4 高溫試驗
高溫室的溫度偏差不大于±2℃，相對濕度不超過50%(+35℃)。裝置在高溫 室內(nèi)各表面與相應(yīng)的室內(nèi)壁之間的最小距離不小于150mm。高溫室以不超過1℃ /min速度升溫，待溫度達(dá)到+40℃并穩(wěn)定后開始計時，保溫2h。再使裝置連續(xù)通 電2h(交、直流電源電壓均為額定值)，檢查裝置的各種功能應(yīng)正常。然后將裝置 斷電，以不超過1℃/min速度降溫，待高溫室內(nèi)溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后， 將裝置取出高溫室進行外觀檢查。
6.5 濕熱試驗
試驗室的溫度偏差不大于±2℃，相對濕度偏差不大于±2%。裝置各表面與 相應(yīng)的室內(nèi)壁之間最小距離不小于150mm，凝結(jié)水不得滴落在試驗樣品上。試驗 室以不超過1℃/min速度升溫，待溫度達(dá)到+40℃并穩(wěn)定后再加濕到90%～95% 范圍內(nèi)，保持48h。在試驗過程最后1～2h內(nèi)，按5.5條規(guī)定用相應(yīng)電壓的兆歐 表測量絕緣電阻，測量時間不小于5s。
試驗結(jié)束后，先把試驗室內(nèi)的相對濕度在半小時內(nèi)降到75±3%，然后在半 小時內(nèi)將試驗室的溫度恢復(fù)到正常溫度并穩(wěn)定后，將裝置取出試驗室進行外觀檢 查。
注：上述6.3、6.4、6.5條各項試驗對不便進行整機試驗的大型產(chǎn)品，根據(jù)
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