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試驗在5min內進行2次。
電容器在試驗中有否損壞，應以在試驗前后在(0.9～1.1)UN的電壓下測量電 容器或單元的電容的方法來檢驗。
6.7 局部放電試驗
局部放電試驗按ZB K48 001中的有關規(guī)定進行。
因測量儀器與被測之量有關，本標準中推薦之量為以pC計的視在電荷q。試 驗電路的靈敏度應能測出不大于5pC的放電強度。
試驗電路的布置應使局部放電強度的測量不受外部電暈放電等干擾的影響。 在能清楚地把較高的背景干擾和試品中產生的局部放電區(qū)分開來時，如果購買方 和制造廠雙方同意，允許有較高的干擾。
局部放電用帶寬至少為100kHz的寬頻帶測量時，有某些有利之處。對具有分 布電容和電感的電容器，尤其如此。然而，對于耦合電容器，用窄頻帶測量局部 放電已經足夠。當測量頻率有可能在0.5MHz到2MHz之間選擇時，更是如此。 優(yōu)先選用的頻率值為0.5MHz和1MHz。但是，如果可能，這一測量應在能得到 最高靈敏度的頻率下進行。
如果和測量儀器具有適當靈敏度的電容相比，被測單元的電容太大，則局部 放電試驗的靈敏度就會太低。在這種情況下，可采用具有較低電壓和較小電容， 但設計和結構上均與試驗電容器相同的模擬單元進行試驗。
6.7.1 出廠試驗
局部放電的出廠試驗，應在6.5條所述耐電壓試驗之后，6.3條所述復測電容 之前進行。
試驗時，試驗電壓應從相對較低之值迅速增加到預加電壓值(見表6)，保持至 少10s，再迅速降低到表6所給出的局部放電測量電壓，在保持至少1min之后測 量局部放電強度。
局部放電強度的允許值列于表6。
在整個試驗期間，試驗電壓的波形應為實際正弦波形。試驗電路應作適當阻 尼，以盡量降低過渡過電壓。
注：局部放電試驗也可以選擇在6.5條的工頻耐電壓試驗之后，降低電壓期 間進行。如果測得的局部放電之值超過了表6的允許限值，則另按前面的規(guī)定單 獨進行試驗。
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