|
b.接收機處于非工作狀態(tài)
在靜電放電后，接收機應無損壞。
5.7.5 抗傳導性高頻電壓的影響試驗
干擾試驗器電路及波形按GB6162的規(guī)定，試驗接線見圖2(a)和圖2(b)，以共模和差模兩種方式將試驗電壓加在被試接收機的電源端子上。試驗電壓的第一個半波的峰值Um按4.6.5條規(guī)定，重復頻率為每秒50個衰減振蕩波群，試驗持續(xù)時間為10s。
試驗時，接收機應處于工作狀態(tài)，試驗中不應有任何誤動或損壞。
圖2 干擾試驗接線
(a)共模干擾試驗線；(b)差模干擾試驗
5.7.6 工頻磁場影響試驗
在直徑1m磁化力400安匝的空心線圈上通50Hz電流，線圈中心的磁通量密度約為0.5mT，將被試接收機置于線圈中央，通電時間為1s，間隔1s共重復3次。
在試驗期間，接收機必須保持其正常性能(具有Uf動作試驗，Unf不動作試驗。控制信號電壓正確編碼，其它影響因素應符合附錄E中的給出值)。
5.7.7 直流磁場影響試驗
上一頁 [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] [20] [21] [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29] 下一頁 |
