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c.如果電容器是由幾個(gè)單元組成的，則除另有規(guī)定者外，出廠試驗(yàn)可對(duì)電容器 或單元進(jìn)行，型式試驗(yàn)應(yīng)對(duì)電容器進(jìn)行，但放電試驗(yàn)、局部放電試驗(yàn)以及型式試 驗(yàn)中的電容及tgδ的測(cè)量也可對(duì)單元進(jìn)行。
對(duì)單元進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，其試驗(yàn)電壓值應(yīng)按5.2.5條的公式確定。
6.2 密封性試驗(yàn)
電容器的密封性試驗(yàn)，以加熱、內(nèi)部加壓或其他行之有效的方法進(jìn)行。
6.3 電容測(cè)量
電容測(cè)量應(yīng)以能排除由于諧波和測(cè)量電路內(nèi)的附件所引起的誤差的方法進(jìn) 行，測(cè)量準(zhǔn)確度應(yīng)不低于1%，測(cè)量精度應(yīng)足以反映出一個(gè)元件擊穿之量。
電容初測(cè)應(yīng)在耐電壓試驗(yàn)(6.5條)之前，在不高于0.15UN的電壓下進(jìn)行；電容 復(fù)測(cè)應(yīng)在耐電壓試驗(yàn)之后在(0.9～1.1)UN的電壓下進(jìn)行。
當(dāng)電容式電壓互感器裝配完整后，中間電壓端子仍能接觸到時(shí)，應(yīng)測(cè)量：
a.高電壓端子對(duì)低電壓端子或接地端子的電容；
b.中間電壓端子對(duì)低電壓端子或接地端子的電容。
注：①當(dāng)被測(cè)單元中串聯(lián)元件的數(shù)目很多時(shí)，一個(gè)元件的擊穿所引起的電容變化 可能和測(cè)量的再現(xiàn)性或者由于耐電壓試驗(yàn)過程中元件受到機(jī)械力或耐電壓試驗(yàn)前 后電容器溫度的差異所造成的電容變化大致相同。這些情況應(yīng)在判斷結(jié)果時(shí)予以考慮。
�、谌绻娙萜鞯碾娙蓦S測(cè)量電壓變化，則在耐電壓試驗(yàn)后首先在與耐電壓試 驗(yàn)前所使用的相同的電壓下，然后在(0.9～1.1)UN的電壓下復(fù)測(cè)電容。
6.4 損耗角正切值(tgδ)測(cè)量
電容器的損耗角正切值應(yīng)在耐電壓試驗(yàn)后在(0.9～1.1)UN的電壓下用能排除 由于諧波和測(cè)量電路內(nèi)的附件所引起的誤差的方法進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量準(zhǔn)確度應(yīng)不低 于20%。
6.5 耐電壓試驗(yàn)
6.5.1 總則
電容器的耐電壓試驗(yàn)，按GB311.2～311.6中的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。除另有規(guī)定 者外，在出廠試驗(yàn)時(shí)作干試；型式試驗(yàn)時(shí)，對(duì)戶內(nèi)產(chǎn)品作干試，戶外產(chǎn)品作濕 試。
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