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6 試驗(yàn)方法
單元的試驗(yàn)及測(cè)量除應(yīng)按下述規(guī)定進(jìn)行外，還應(yīng)符合ZBK48003的要求。
6.1 試驗(yàn)條件
除非對(duì)某一特定的試驗(yàn)或測(cè)量另有說明，試驗(yàn)開始時(shí)單元的電介質(zhì)的溫度應(yīng) 在+5℃到+35℃范圍內(nèi)。
如果單元在不通電的狀態(tài)下，在恒定的環(huán)境溫度中已經(jīng)放置了適當(dāng)長(zhǎng)的一段 時(shí)間，則可認(rèn)為其電介質(zhì)的溫度和環(huán)境溫度相同。
6.2 密封性試驗(yàn)
將單元的各個(gè)部位加熱到電介質(zhì)允許最高運(yùn)行溫度，并在此溫度下保持2h應(yīng) 不發(fā)生滲漏。
建議使用適當(dāng)?shù)闹甘酒鳌?/P>
注：如果單元不含有液態(tài)物質(zhì)，出廠試驗(yàn)時(shí)可不進(jìn)行此項(xiàng)試驗(yàn)。
6.3 電容測(cè)量
電容的測(cè)量在制造廠選用的電壓和頻率下進(jìn)行，所用方法應(yīng)不包括由于諧波 或單元的外部附件，諸如測(cè)量回路中的電抗器和聯(lián)鎖回路等所引起的誤差。應(yīng)給 出測(cè)量方法的準(zhǔn)確度以及與在額定電壓和頻率下測(cè)量值之間的關(guān)系。
用作熱穩(wěn)定試驗(yàn)的單元，應(yīng)在做熱穩(wěn)定試驗(yàn)前在電壓(0.9～1.1)Un和頻率 (0.8～1.2)fn下測(cè)量電容，此電容測(cè)量也可根據(jù)購(gòu)買方要求，經(jīng)與制造廠達(dá)成協(xié) 議后在其他單元上進(jìn)行。
6.4 損耗角正切值tgδ的測(cè)量
單元的損耗角正切值應(yīng)在制造廠選定的電壓和頻率下進(jìn)行測(cè)量，所使用的方 法應(yīng)不包括由諧波或被測(cè)量單元外部附件，諸如測(cè)量回路中的電抗器和聯(lián)鎖電路 等引起的誤差。應(yīng)給出測(cè)量方法的準(zhǔn)確度，以及與在額定電壓和額定頻率下測(cè)得 值之間的關(guān)系。
測(cè)量應(yīng)在耐壓試驗(yàn)后進(jìn)行。
對(duì)用來作熱穩(wěn)定試驗(yàn)的單元，其損耗角正切值tgδ的測(cè)量應(yīng)在作熱穩(wěn)定試驗(yàn) 前、在電壓(0.9～1.1)Un和頻率(0.8～1.2) fn下進(jìn)行測(cè)量。
注：①當(dāng)在對(duì)大量的單元進(jìn)行出廠試驗(yàn)時(shí)，可采用統(tǒng)計(jì)抽樣的方法抽測(cè)其中部分 單元的高溫tgδ值(6.8條的注)。
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