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在熱穩(wěn)定性試驗前后，應(yīng)在標準的試驗溫度范圍(6.2條)內(nèi)測量電容并校正到 同一電介質(zhì)溫度，兩值之差應(yīng)小于一個元件擊穿或一根內(nèi)部熔絲熔斷之量。
在解釋測量結(jié)果時，應(yīng)該注意以下兩個因素：
a.測量的再現(xiàn)性；
b.在沒有元件擊穿或熔絲熔斷時，電介質(zhì)的內(nèi)在變化可能導(dǎo)致電容微小的變 化。
注：用于60Hz的電容器可以在50Hz下試驗，反之亦可，但其試驗容量都必 須等于1.58Qn。
6.8.3 在試驗中應(yīng)考慮電壓、頻率及試品周圍空氣溫度等的波動。為此，建議作出 這些參數(shù)以及單元損耗角正切值或外殼溫度對時間的函數(shù)曲線。
6.8.4 建議作出單元損耗角正切值對外殼或電介質(zhì)溫度的函數(shù)曲線。
6.9 高溫損耗角正切值的測量
在型式試驗中，此測量應(yīng)在熱穩(wěn)定性試驗結(jié)束時進行。測量電壓應(yīng)符合6.7 條規(guī)定。測量值應(yīng)滿足5.2.7條的要求。
在出廠試驗中，此項測量在電介質(zhì)允許最高運行溫度下進行，其余要求按6.7 條。
6.10 放電試驗
以直流電將單元充電到2.5Un，然后通過盡可能靠近單元的間隙放電。這樣的 試驗應(yīng)在10min內(nèi)作完5次。接著在5min內(nèi)按5.2.8條進行一次極間耐壓試驗。 在放電試驗之前和耐壓試驗之后測量電容，兩次測量值之差應(yīng)小于一只元件擊穿 或一根內(nèi)部熔絲熔斷之量。
6.11 內(nèi)部熔絲試驗
內(nèi)部熔絲試驗按GB 11025進行。
6.12 局部放電試驗
試驗電壓應(yīng)為實際正弦波，應(yīng)對試驗電路適當阻尼，以降低由于過渡過程引 起的過電壓。
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